XRD冷熱臺專為X射線衍射分析儀設計的原位裝置，精準掌控材料在變溫、力學加載等多場耦合條件下的實時響應，可精準適配布魯克、賽默飛、理學、島津等主流XRD設備。
果果儀器XCH600XRD冷熱臺：溫度范圍-190°C~600°C，溫度穩定性土0.1°C，能實現定點、斜率、程序段多模式精準控溫。
載樣臺反射/透射可選；圓弧形窗口設計，衍射角2θ：∠0°～∠164°，采用Kapton膜作為視窗；
可定制支架 ，適配各種型號X射線衍射儀，如理學、布魯克、賽默飛、島津、帕納科等。
XRD冷熱臺XCH600特點：
溫度范圍：-190℃~600℃
溫度穩定性：±0.1℃
衍射角2θ： ∠0°～∠164°
視窗材質：Kapton膜
氣氛腔室，可升級真空
可更換上蓋，作為普通冷熱臺使用
XRD冷熱臺是一款專為X射線衍射(XRD)實驗設計的高性能控溫設備，能夠實現定點、斜率和程序段多模式的精準溫控，為材料科學研究和工業應用提供了重要技術支持。在現代材料分析中，溫度對晶體結構、相變行為及材料性能的影響至關重要，冷熱臺通過精確調控樣品溫度，使科研人員能夠在實驗室條件下實現高精度的熱處理與結構分析。
在定點控溫模式下，XRD冷熱臺能夠將樣品保持在設定的恒定溫度，實現長時間穩定測量。這對于研究材料的熱穩定性、相變溫度及晶格常數隨溫度變化的規律非常重要。例如，在陶瓷、金屬合金或功能性材料的研究中，科研人員可以通過在不同恒溫點進行XRD掃描，準確分析材料晶體結構隨溫度的變化，為材料設計和工藝優化提供科學依據。定點控溫模式不僅保證了測量的重復性，還可以避免溫度波動對實驗數據的干擾，提高分析精度。
斜率控溫模式是冷熱臺的一大特色功能，能夠實現以設定升溫或降溫速率對樣品進行溫度掃描。這種模式適用于研究材料在加熱或冷卻過程中發生的動態變化，如固態相變、晶體缺陷形成或溶解沉淀過程。科研人員可以通過設定不同斜率參數，獲得詳細的溫度-時間響應數據，從而深入了解材料的熱力學行為和動力學特性。斜率控溫在熱敏感材料和相變材料研究中尤其重要，它可以幫助研究人員識別關鍵轉變點并優化材料性能。
